장비 상세정보
| 태양전지 접촉저항측정기 (Contact Resistance Scanner) | |||||||||||||
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| 장비설명 | 1. Solar Cell의 Emitter와 Metallization Grid 사이의 접촉 저항을 표면 지도의 형태를 구체적으로 나타내기 위하여 개발된 측정 장비 2. Shunt location 및 Short circuit open circuit voltage 등을 자세하게 Mapping하는 기능 |
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| 구성 및 성능 | • 4가지 표준 모드로 이루어져 있으며 각 모드는 Cell 또는 Wafer를 자세히 Mapping 한 결과를 보여줌. • Contact resistance (RC) : 향상된 셀 효율을 위한 Metallization Process를 컨트롤하고 최적화 및 진단하기 위하여 전면 Metallization 의 Contact resistance (RC)를 측정 • Shunt(Rsh) location: Emitter 또는 cell Shorting을 진단하기 위하여 Shunt의 위치를 측정 • Open Circuit voltage (Voc): 증가된 Recombination을 갖는 부분을 확인하기 위하여 전면 Metallization 이 되어있지 않은 셀의 Open Circuit Voltage 를 측정 • Light beam induced current (LBIC) : Bulk Life Time이 감소된 부분을 확인하고 Getting 과 Hydrogen Passivation을 취적화하기 위하여 Light Beam Induced를 측정 |
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| 사용예 | Solar Cell의 Emitter와 Metallization Grid 사이의 접촉 저항을 표면 지도의 형태를 구체적으로 표현 | ||||||||||||
