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태양전지 접촉저항측정기 (Contact Resistance Scanner)

태양전지접촉저항측정기.jpg

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사용용도
표준분류 전기/전자장비
모델명 Corescan
제작사 썬렙
구축일자 2014. 03. 31
보유기관 전북대 신재생에너지소재개발지원센터
장비설명 1. Solar Cell의 Emitter와 Metallization Grid 사이의 접촉 저항을 표면 지도의 형태를 구체적으로 나타내기 위하여 개발된 측정 장비
2. Shunt location 및 Short circuit open circuit voltage 등을 자세하게 Mapping하는 기능
구성 및 성능 • 4가지 표준 모드로 이루어져 있으며 각 모드는 Cell 또는 Wafer를 자세히 Mapping 한 결과를 보여줌.
• Contact resistance (RC) : 향상된 셀 효율을 위한 Metallization Process를 컨트롤하고 최적화 및 진단하기 위하여 전면 Metallization 의 Contact resistance (RC)를 측정
• Shunt(Rsh) location: Emitter 또는 cell Shorting을 진단하기 위하여 Shunt의 위치를 측정
• Open Circuit voltage (Voc): 증가된 Recombination을 갖는 부분을 확인하기 위하여 전면 Metallization 이 되어있지 않은 셀의 Open Circuit Voltage 를 측정
• Light beam induced current (LBIC) : Bulk Life Time이 감소된 부분을 확인하고 Getting 과 Hydrogen Passivation을 취적화하기 위하여 Light Beam Induced를 측정
사용예 Solar Cell의 Emitter와 Metallization Grid 사이의 접촉 저항을 표면 지도의 형태를 구체적으로 표현